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SN74ABT18640DL

IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 56-SSOP

भाग संख्या

SN74ABT18640DL

निर्माता/ब्रांड

Texas Instruments

शृंखला

74ABT

भाग स्थिति

Active

पैकेजिंग

Tube

परिचालन तापमान

-40°C ~ 85°C

माउन्टिंग का प्रकार

Surface Mount

पैकेज/केस

56-BSSOP (0.295", 7.50mm Width)

आपूर्तिकर्ता डिवाइस पैकेज

56-SSOP

वोल्टेज आपूर्ति

4.5 V ~ 5.5 V

बिट्स की संख्या

तर्क प्रकार

Scan Test Device with Inverting Bus Transceivers

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