SN74ABT8543DW
IC SCAN TEST DEV/TXRX 28-SOIC
भाग संख्या
SN74ABT8543DW
निर्माता/ब्रांड
शृंखला
74ABT
भाग स्थिति
Active
पैकेजिंग
Tube
परिचालन तापमान
-40°C ~ 85°C
माउन्टिंग का प्रकार
Surface Mount
पैकेज/केस
28-SOIC (0.295", 7.50mm Width)
आपूर्तिकर्ता डिवाइस पैकेज
28-SOIC
वोल्टेज आपूर्ति
4.5 V ~ 5.5 V
बिट्स की संख्या
8
तर्क प्रकार
Scan Test Device with Registered Bus Transceiver
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