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SN74ABT8952DWR

IC SCAN TEST DEVICE 28SOIC

भाग संख्या

SN74ABT8952DWR

निर्माता/ब्रांड

Texas Instruments

शृंखला

74ABT

भाग स्थिति

Obsolete

पैकेजिंग

Tape & Reel (TR)

परिचालन तापमान

-40°C ~ 85°C

माउन्टिंग का प्रकार

Surface Mount

पैकेज/केस

28-SOIC (0.295", 7.50mm Width)

आपूर्तिकर्ता डिवाइस पैकेज

28-SOIC

वोल्टेज आपूर्ति

4.5 V ~ 5.5 V

बिट्स की संख्या

तर्क प्रकार

Scan Test Device with Registered Bus Transceiver

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