SN74LVTH18502APM
IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-LQFP
भाग संख्या
SN74LVTH18502APM
निर्माता/ब्रांड
शृंखला
74LVTH
भाग स्थिति
Active
पैकेजिंग
Tray
परिचालन तापमान
-40°C ~ 85°C
माउन्टिंग का प्रकार
Surface Mount
पैकेज/केस
64-LQFP
आपूर्तिकर्ता डिवाइस पैकेज
64-LQFP (10x10)
वोल्टेज आपूर्ति
2.7 V ~ 3.6 V
बिट्स की संख्या
18
तर्क प्रकार
ABT Scan Test Device With Universal Bus Transceivers
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